Регенерация ион-селективных электродов

В качестве примера можно привести способ регенерации Си- селективных электродов [238]. Длительное хранение Си-селективных электродов вследствие старения сульфида меди приводит к снижению их чувствительности. С целью восстановления характеристик электрода проводилась их обработка в растворах салицилальанилина в диме- тилформамиде.

Мембрана электрод в течение 16 часов выдерживалась в 0,1 М растворе салицилальанилина в диметилформамиде. После чего мембрана промывалась в ацетоне и высушивалась в течение 50 мин при температуре 50°С.

В результате растворения поверхностной пленки сульфида меди происходило образование сульфида нестехиометрического состава. Все это приводило к повышению эффективности ионного транспорта катионов Си2" через мембрану.

Эффективность предложенного способа демонстрирует калибровочная зависимость Cu-селективных электродов для мембраны, полученной механическим формованием и мембраны, подвергнутой обработке в донорно-акцепторной системе (рис. 174).

Чувствительность электродов, полученных по обычной схеме и при обработке в растворе салицилальанилина в диметилформамиде составила 17 и 29 мВ/pCu соответственно.

Необходимо отметить, что калибровочные зависимости Си- селективных электродов (рис. 175), мембрана которых была получена механическим формованием (2), той же мембраны после 17 лет эксплуатации (7) и мембраны реставрированной после 17 лет эксплуатации (3) существенно различаются.

Чувствительность Cu-селективных электродов полученных механическим формованием составляла 26 мВ/pCu, после 17 лет эксплуатации снижалась до 15 мВ/pCu, а после реставрации в донорноакцепторной системе достигла 35 мВ/pCu.

Калибровочные зависимости Cu-селективных электродов (1 - мембрана, полученная механическим формованием, 2 - мембрана, обработанная в донорно-акцепторной системе)

Рис. 174. Калибровочные зависимости Cu-селективных электродов (1 - мембрана, полученная механическим формованием, 2 - мембрана, обработанная в донорно-акцепторной системе)

Калибровочные зависимости Cu-селективных электродов

Рис. 175. Калибровочные зависимости Cu-селективных электродов

 
Посмотреть оригинал
< Пред   СОДЕРЖАНИЕ   ОРИГИНАЛ   След >